La diffraction des rayons X est une technique sans effets destructeurs destinée à caractériser les matériaux cristallins. Elle donne des informations sur la structure, les phases, les orientations privilégiées du cristal (texture) et d’autres paramètres structurels comme la taille moyenne du grain, la cristallinité, la tension et les défauts des cristaux.
description de l'appareil
Diffractomètre Bruker « D8 Advance » équipé d’un détecteur LynxEye permettant une acquisition d’étudier avec précision et rapidité des échantillons polycristallins.
De plus nous avons la possibilité de faire des mesures à température ambiante à l’aide d’un passeur d’échantillon 9 positions ou des mesures de -193°C à 450°C à l’aide d’une chambre TTK450.
Points forts :
- Sans effets destructeurs
- Mesure quantitative du contenu des phases et orientation de la texture
- Exigences minimes ou inexistantes de préparation des échantillons
Limites :
- Ne peut identifier les matériaux amorphes
- Pas d’informations sur le profil en profondeur
le personnel en charge
Renaud cousin
Bâtiment MREI1, 1 er étage
03.28.65.82.76
renaud.cousin@univ-littoral.fr
Christophe poupin
Bâtiment MREI1, 1 er étage
03.28.65.82.76
christophe.poupin@univ-littoral.fr
compétences
- Identification de phase cristalline d’une grande quantité d’échantillons de densité globale et de couche mince.
- Détermination de la taille des cristallites pour les couches polycristallines et les matériaux polycristallins.
- Détermination du pourcentage de matériaux sous forme cristalline par rapport aux pourcentages de matériaux amorphes.
- Mesure pour de faibles quantités d’échantillons de poudre libre ou de solution sèche pour l’identification de phase
Thèmes de recherche
- Étude de tous les matériaux présentant une phase cristalline .
- Suivi de phase cristalline en fonction de la température.
prestations
Pour toute demande de prestation ou de convention de collaboration, veuillez-vous rapprocher des personnes en charges de la DRX en précisant vos demandes.